| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | IM3523/IM3533 LCR測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | IM3523、IM3533、IM3533-01 |
| 簡(jiǎn) 介: | 應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域,基本精度±0.05%,測(cè)量范圍:DC,1mHz(IM3523是40Hz)~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA,內(nèi)置比較器和BIN功能,2ms的快速測(cè)試時(shí)間。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | IM3536 LCR測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | IM3536 |
| 簡(jiǎn) 介: | 測(cè)量頻率DC,4Hz~8MHz,測(cè)量時(shí)間:最快1ms, 基本精度:±0.05% rdg, 1mΩ以上的精度保證范圍,可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | IM3570 LCR測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | IM3570 |
| 簡(jiǎn) 介: | 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量的連續(xù)測(cè)量,LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz),基本精度±0.08%,適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測(cè)量, 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量,可以用于無(wú)線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | IM3590 化學(xué)阻抗分析儀 |
| 型 號(hào): | IM3590 |
| 簡(jiǎn) 介: | 適用于離子運(yùn)動(dòng)和溶液電阻測(cè)量,1mHz ~ 200kHz的寬范圍信號(hào)源,1臺(tái)機(jī)器即可實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、掃描測(cè)量的連續(xù)測(cè)量和高速檢查,可測(cè)量電池的無(wú)負(fù)載狀態(tài)產(chǎn)生的內(nèi)部電阻, 最快2ms的測(cè)量速度,基本精度±0.05%,零件檢查到研究開發(fā)測(cè)量均可對(duì)應(yīng),適用于Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學(xué)零件和材料的電阻(LCR)測(cè)量。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | IM7580A/IM7581 LCR測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | IM7580A,IM7581 |
| 簡(jiǎn) 介: | 測(cè)量頻率1MHz~300MHz(IM7580A),100kHz~300MHz(IM7581),測(cè)量時(shí)間:最快0.5ms,基本精度±0.72%rdg.,緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定),使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | IM7583 LCR測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | IM7583 |
| 簡(jiǎn) 介: | 測(cè)量頻率:1MHz~600MHz,測(cè)量時(shí)間:最快0.5ms(模擬測(cè)量時(shí)間),基本精度:±0.65% rdg.,緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定),使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | IM7585 LCR測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | IM7585 |
| 簡(jiǎn) 介: | 測(cè)量頻率:1MHz~1.3GHz,測(cè)量時(shí)間:最快0.5ms(模擬測(cè)量時(shí)間), 測(cè)量值偏差:0.07%(測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值),基本精度:±0.65% rdg.,緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,接觸檢查功能(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定),使用分析功能在掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | IM7587 LCR測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | IM7587 |
| 簡(jiǎn) 介: | 測(cè)量頻率:1MHz~3GHz,測(cè)量時(shí)間:最快0.5ms(模擬測(cè)量時(shí)間),測(cè)量值偏差:0.07%(測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值),基本精度:±0.65% rdg.,緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小,接觸檢查(DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定),分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊進(jìn)行測(cè)量。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | RM3542 電阻計(jì) |
| 型 號(hào): | RM3542 |
| 簡(jiǎn) 介: | 用于自動(dòng)化產(chǎn)線的電阻計(jì),測(cè)量源:DC,最快測(cè)量時(shí)間:0.9ms,最小積分時(shí)間:0.1ms,最高分辨率:0.1μΩ。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | RM3542A 電阻計(jì) |
| 型 號(hào): | RM3542A |
| 簡(jiǎn) 介: | 適合于自動(dòng)設(shè)備的電阻計(jì),可測(cè)小電子元件,測(cè)試電流:DC,測(cè)量時(shí)間:最快0.9ms,累積時(shí)間:最快0.1ms,最小分辨率:0.1μΩ。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | RM3543 電阻計(jì) |
| 型 號(hào): | RM3543 |
| 簡(jiǎn) 介: | 用于自動(dòng)化產(chǎn)線的電阻計(jì),測(cè)量源:DC,最快測(cè)量時(shí)間:2.0ms,最小積分時(shí)間:0.1ms,最高分辨率:0.1μΩ。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | RM3544 電阻計(jì) |
| 型 號(hào): | RM3544 |
| 簡(jiǎn) 介: | 適合于手動(dòng)產(chǎn)線和自動(dòng)產(chǎn)線的電阻計(jì),測(cè)試源電流:最大DC 300mA,最快測(cè)量速度:18ms,最高精度:1μΩ。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | RM3545 電阻計(jì) |
| 型 號(hào): | RM3545 |
| 簡(jiǎn) 介: | 用于線圈或線路電阻、高電阻測(cè)量,測(cè)量源:最大DC 1A,最快測(cè)量速度:2.2ms,最高精度:0.01 μΩ,多點(diǎn)測(cè)量:20處。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | RM3545A 電阻計(jì) |
| 型 號(hào): | RM3545A |
| 簡(jiǎn) 介: | 最小測(cè)量量程: 1000 μΩ,最小測(cè)量量程精度: 0.045%,最小分辨率: 1 nΩ,最大測(cè)量電流: 1 A。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | RM3548 電阻計(jì) |
| 型 號(hào): | RM3548 |
| 簡(jiǎn) 介: | 可測(cè)μΩ~MΩ的便攜式微電阻計(jì),測(cè)試源電流:最大DC 1A,顯示更新率:約100ms,最高精度:0.1μΩ。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | BT6065/BT6075 電池測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | BT6065/BT6075 |
| 簡(jiǎn) 介: | AC-IR最高分辨率10 nΩ,5位半,DCV最高分辨率1 μV,7位半,同時(shí)測(cè)量ΩV的真值:最快檢查時(shí)間12ms,適用于內(nèi)部電阻1mΩ以內(nèi)的大容量電池的生產(chǎn)線。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | BT4560 電池阻抗測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | BT4560 |
| 簡(jiǎn) 介: | EIS 測(cè)量頻率:0.01 Hz ~ 1.05 kHz,阻抗測(cè)量:最高分辨率0.1 μΩ,同時(shí)測(cè)量阻抗、電壓和溫度。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | BT3561A 電池測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | BT3561A |
| 簡(jiǎn) 介: | 同時(shí)測(cè)試內(nèi)部阻抗和開放型電壓,測(cè)量用于動(dòng)力的小型電池、60V以內(nèi)的小型電池組,內(nèi)部阻抗(AC-IR)測(cè)量量程: 30 mΩ/300 mΩ/3 Ω/30 Ω/300 Ω/3 kΩ,開放型電壓測(cè)量量程: 6 V/60 V,接口搭載LAN。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | BT3562A 電池測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | BT3562A |
| 簡(jiǎn) 介: | 同時(shí)測(cè)試內(nèi)部阻抗和開放型電壓,用于測(cè)試xEV大型電池、100 V以下的中型電池組的測(cè)試,內(nèi)部阻抗(AC-IR)測(cè)量量程: 3 mΩ/30 mΩ/300 mΩ/3 Ω/30 Ω/300 Ω/3 kΩ,開放型電壓測(cè)量量程: 6 V/60 V/100 V,接口搭載LAN。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | BT3563A 電池測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | BT3563A |
| 簡(jiǎn) 介: | 同時(shí)測(cè)試內(nèi)部阻抗和開放型電壓,用于測(cè)試xEV大型電池、300 V以下的中型電池組的測(cè)試,內(nèi)部阻抗(AC-IR)測(cè)量量程: 3 mΩ/30 mΩ/300 mΩ/3 Ω/30 Ω/300 Ω/3 kΩ,開放型電壓測(cè)量量程: 6 V/60 V/300 V,接口搭載LAN。 |
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| 品 牌: | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名: | BT3564 電池測(cè)試儀 |
| 型 號(hào): | BT3564 |
| 簡(jiǎn) 介: | 最高可對(duì)應(yīng)1000V的直接測(cè)量,適用于針對(duì)EV、PHEV的高壓電池的生產(chǎn)線,內(nèi)部電阻測(cè)量0.1mΩ~3kΩ(總包電阻/母線電阻),搭載高壓測(cè)試防火花功能,模擬輸出功能。 |
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