| 品 牌： | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名： | IM3523/IM3533 LCR測試儀 |
| 型 號： | IM3523、IM3533、IM3533-01 |
| 簡 介： | 應(yīng)用于生產(chǎn)線和自動化測試領(lǐng)域，基本精度±0.05％，測量范圍：DC，1mHz(IM3523是40Hz)～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA，內(nèi)置比較器和BIN功能，2ms的快速測試時間。 |
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| 品 牌： | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名： | IM3536 LCR測試儀 |
| 型 號： | IM3536 |
| 簡 介： | 測量頻率DC，4Hz~8MHz，測量時間：最快1ms， 基本精度：±0.05% rdg， 1mΩ以上的精度保證范圍，可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測量。 |
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| 品 牌： | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名： | IM3570 LCR測試儀 |
| 型 號： | IM3570 |
| 簡 介： | 1臺儀器實(shí)現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量的連續(xù)測量，LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz），基本精度±0.08%，適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量， 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量，可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400 |
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| 品 牌： | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名： | IM3590 化學(xué)阻抗分析儀 |
| 型 號： | IM3590 |
| 簡 介： | 適用于離子運(yùn)動和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬范圍信號源，1臺機(jī)器即可實(shí)現(xiàn)LCR測量、掃描測量的連續(xù)測量和高速檢查，可測量電池的無負(fù)載狀態(tài)產(chǎn)生的內(nèi)部電阻， 最快2ms的測量速度，基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發(fā)測量均可對應(yīng)，適用于Cole-Cole圖、等效電路分析等電器化學(xué)零件和材料的電阻(LCR)測量。 |
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| 品 牌： | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名： | IM7580A/IM7581 LCR測試儀 |
| 型 號： | IM7580A，IM7581 |
| 簡 介： | 測量頻率1MHz~300MHz（IM7580A)，100kHz~300MHz（IM7581），測量時間：最快0.5ms，基本精度±0.72%rdg.，緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定），使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進(jìn)行測量。 |
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| 品 牌： | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名： | IM7583 LCR測試儀 |
| 型 號： | IM7583 |
| 簡 介： | 測量頻率：1MHz~600MHz，測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間），基本精度：±0.65% rdg.，緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定），使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進(jìn)行測量。 |
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| 品 牌： | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名： | IM7585 LCR測試儀 |
| 型 號： | IM7585 |
| 簡 介： | 測量頻率：1MHz~1.3GHz，測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間）， 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值），基本精度：±0.65% rdg.，緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定），使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進(jìn)行測量。 |
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| 品 牌： | HIOKI 日置 |
|---|---|
| 品 名： | IM7587 LCR測試儀 |
| 型 號： | IM7587 |
| 簡 介： | 測量頻率：1MHz~3GHz，測量時間：最快0.5ms（模擬測量時間），測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值），基本精度：±0.65% rdg.，緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定），分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進(jìn)行測量。 |
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